亨特-許雷格帶是牙釉質中由於釉柱排列方向交替改變所形成的條紋狀結構，呈現周期性的光學性質變化。 **A.** 錯誤。亨特-許雷格帶應使用**反射光顯微鏡（reflected light microscope）**或偏光顯微鏡觀察效果最佳。在透光顯微鏡下較難清楚呈現其特徵。 **B.** 錯誤。亨特-許雷格帶並非因鈣化不全所造成，而是正常生理性的結構變化。這些帶狀結構在完全鈣化的牙釉質中清楚可見，與礦化程度無關。 **C.** 正確。亨特-許雷格帶是由相鄰的釉柱排列方向交替改變（由軸向改為傾向）所形成。釉柱在牙頸部呈軸向排列，向咬合面逐漸傾斜，這種方向的周期性改變造成光學性質的交替變化，形成明暗相間的帶狀紋理。 **D.** 錯誤。亨特-許雷格帶是牙釉質的結構特徵，而非牙本質的生長線。牙本質的生長